• 超高精度，*高性能
• 電冷卻Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器代替液氮冷卻探測(cè)器
• 專門開發(fā)的軟件，界面友好
• 自由選擇濾鏡和準(zhǔn)直儀自動(dòng)切換
• 多變量非線性回歸程序；獨(dú)立矩陣效應(yīng)校正模型
• 三重安全保護(hù)模式；鋼材結(jié)構(gòu); 優(yōu)雅時(shí)尚
• 手動(dòng)打開和關(guān)閉樣品室，安全便捷
• 信噪增強(qiáng)器（SNE ），大大提高了測(cè)量的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性
• 內(nèi)置高分辨率攝像頭，方便用戶隨時(shí)分析樣品

 工作原理

當(dāng)某些元素受到X射線轟擊時(shí)，會(huì)發(fā)射出電子，從而使能量從外殼中釋放出來。電子可以從原子的內(nèi)殼中彈出，從而使它們從更高的層次下降。當(dāng)此事件發(fā)生時(shí)，稱為“特征X射線”。

X射線熒光過程
a致輻射的x射線和特征性x射線是由電子束產(chǎn)生的，這是由XRF分析儀用X射線轟擊樣品的原子而發(fā)生的。每個(gè)電子躍遷都發(fā)射特征X射線（熒光光子），其能量等于特定元素在兩個(gè)殼之間的能量差。電子在相同元素的所有原子中具有相同的固定能級(jí)，每個(gè)類似的電子躍遷均發(fā)射相同離散能量的X射線。因此，當(dāng)電子從同一元素的原子中射出時(shí)，發(fā)出的X射線是相同的。